斯多克-最先进的双陶瓷纳米薄膜技术电容式露点传感器(2015-02-13 10:39:24)
Andrew Michell先生于上世纪70年代发明Michell露点传感器。 Andrew Michell先生凭借40年的传感器研发经验， 发明了当今国际市场上性能最优的双陶瓷纳米薄膜技术电容式点传感器。斯多克露点传感器是Michell露点传感器的天然接班人。
一、双陶瓷纳米薄膜技术电容式露点传感器优势
斯多克双陶瓷纳米薄膜技术电容式露点传感器代表着当今气体水分测量领域的重大技术进步。它采用两片专门研发的低温共烧陶瓷K950和K263设计快速响应及高稳定性的露点传感器。陶瓷层K950仅10纳米厚度，作为电气绝缘屏障，它有超过2兆欧的直流电阻，能有效防止传感器在使用过程中产生短路故障。低温共火超薄响应层K263仅24纳米厚， 它具有高吸湿性并且通过改变它的电容对水蒸汽压力改变响应迅速。正是K950陶瓷隔离层使得我们能将响应层厚度减到最小，这意味着水蒸气与响应层的交换要远快于早期的露点传感器。
二、氧化铝电容式露点传感器劣势
多年以来电容式（也被称为阻抗）湿度传感器都是利用氧化铝或聚合物作为电容层。聚合物无法提供足够的灵敏度从而使其用于低湿测量应用。利用氧化铝作为响应层的露点传感器例如Michell（有时也被称为陶瓷露点传感器），其响应层厚度为1000纳米。除非冒着在传感器使用操作过程中可能产生电气短路的风险去将电气绝缘层厚度降低，否则比这更薄的响应层根本无法制造出来，因此1000纳米厚的响应层是MICHELL等厂家氧化铝电容式露点传感器性能方面的一大限制因素，这意味着响应时间尤其是在低湿范围将会很长。氧化铝电容式露点传感器的另一不足之处是：随着时间推移，氧化铝经过缓慢转换过程会变成氢氧化铝，从而导致露点仪产生标定漂移，因而传统的氧化铝电容式露点仪需要频繁地校准。